普賽斯SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀具有高精度、寬測(cè)量范圍、 快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)，產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測(cè)試。

        基于模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),可以幫助用戶根據(jù)測(cè)試需要,靈活選配測(cè)量單元進(jìn)行升級(jí)。產(chǎn)品支持最高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測(cè)量,同時(shí)檢測(cè)10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測(cè)量。

        搭載專(zhuān)用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件,支持交互式手動(dòng)操作或結(jié)合探針臺(tái)的自動(dòng)操作,能夠從測(cè)量設(shè)置、執(zhí)行、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個(gè)過(guò)程，實(shí)現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征；也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測(cè)試需求。

產(chǎn)品特點(diǎn)

●    30μV-1200V，1pA-100A 寬量程測(cè)試能力

●     測(cè)量精度高，全量程下可達(dá)0.03%

●     內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測(cè)試程序，直接調(diào)用測(cè)試簡(jiǎn)便 

●     自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、 數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)

●     在CV和IV測(cè)量之間快速切換而無(wú)需重新布線

●     提供靈活的夾具定制方案，兼容性強(qiáng)

●     免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集

圖形化軟件界面

配合普賽斯自主開(kāi)發(fā)的專(zhuān)業(yè)測(cè)試軟件，SPA6100可輕松實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體材料，器件的參數(shù)測(cè)試。系統(tǒng)內(nèi)置常用器件模板，如二極管， 三極管，MOSFET。測(cè)試過(guò)程中，可直接調(diào)用，只需簡(jiǎn)單設(shè)置測(cè)試參數(shù)即可。軟件支持測(cè)試數(shù)據(jù)顯示，以及曲線繪制。測(cè)試完畢 后，可將數(shù)據(jù)以及曲線導(dǎo)出保存。

靈活可定制化的夾具方案

針對(duì)市面上不同封裝類(lèi)型的半導(dǎo)體器件產(chǎn)品，普賽斯提供整套夾具解決方案。夾具具有低阻抗、安裝簡(jiǎn)單、種類(lèi)豐富等特點(diǎn)，可 用于二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管、IGBT、SiC MOS、GaN等單管，模組類(lèi)產(chǎn)品的測(cè)試；也可與探針臺(tái)連接，實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)芯片 測(cè)試。

不同封裝類(lèi)型的夾具

普賽斯SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀產(chǎn)品選型

低壓直流I-V源測(cè)量單元

低壓脈沖I-V源測(cè)量單元

高壓I-V源測(cè)量單元

高流I-V源測(cè)量單元

電容測(cè)量單元